X射線熒光鍍層無損測厚儀/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5是鍍層測厚和材料分析的通用儀器，能提供目前zui高的性價比。他們是既能滿足*功能性，又能滿足zui高的檢測精度的理想工具。擁有強大的無標樣分析軟件，可通過無標樣分析方法直接檢測單層、雙層膜層厚度，無需購備過多標樣，節(jié)省費用。
X射線熒光鍍層無損測厚儀/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5操作軟件介紹：
X-Master是一款具備龐大應用功能并被成功使用的軟件，更多新的應用正不斷地加入進來。
可選軟件模塊
µ-Master 用于鍍層厚度測量
Element-Master 用于材料分析
Report-Master 用于微軟報告文件
Data-Master 用于數據庫管理
%-Master 用于材料分析（珠寶）
Liquid-Master 用于電鍍液分析
/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5規(guī)格介紹：
1、鍍層和成份分析
鍍層：zui多同時測定5層(4層鍍層+基體材料) •成份：zui多同時測定20種元素
2、X射線激發(fā)
50kV、1.2mA (60W)高壓發(fā)生器
微聚焦W靶X射線管
3、探測器
封氣正比例計數器
25mm2 半導體(Si-PIN) 探測器，Peltier電制冷
4、數字脈沖處理器
4096 通道、數字式多道分析器
含死時間校正和脈沖堆積清除的自動數字信號處理器
5、準直器
單準直器任選：0.2mm x 0.5 mm, 0.3 mm, 0.4 mm, 0.5 mm Ø
多準直器程控交換：0.1 x 0.7mm, 0.2 x 0.7mm, 0.3mm,0.5mm Ø (可選件)
/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5優(yōu)勢
操作簡單
無損檢測只需幾秒鐘
為質量保證和過程控制提供單層或多層分析
用于優(yōu)化電鍍液控制的金屬離子含量分析
以X射線熒光技術進行無損分析
市場上zui高性價比
自動化批量檢測：XYZ
應用行業(yè)：電子，珠寶，金屬加工
/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5樣品臺規(guī)格：
X-Y 手動樣品臺：600 x 600 mm; zui大承重25 kg;zui大樣品高度175 mm 或者350 mm可調
X-Y 程控樣品臺：X-Y臺面尺寸300 mm x 250 mm；zui大承重5 公斤；程控距離X=300,mm Y=250 mm（可選件)
程控Z 軸移動距離：180mm；可使用鼠標或者手柄控制
其他規(guī)格：
1、計算機/顯示屏/操作系統(tǒng)
In Pentium G2030, 2G RAM, 500G硬盤(配置相當或者更高)
19" TFT 平板彩色顯示器
MicrosoftTM Windows7 32 bit
2、成像系統(tǒng)
彩色視頻系統(tǒng)
20 倍放大倍數
被測樣品圖像實時顯示功能
電腦顯示屏具有畫中畫功能
3、工作環(huán)境要求
50F (10C) - 95F (35C)
zui高98%相當濕度(無冷凝水)
推薦在空調環(huán)境中使用
4、zui大樣品尺寸(長x 寬x 高)
X-Y 手動樣品臺： 600 x 500 x 350 mm
X-Y 程控樣品臺： 600 x 500 x 350 mm
5、儀器外形尺寸(長x 寬x 高）
700 x 770 x 700 mm
重量： 90 kg
測定元素范圍Ti22 - U92
電源要求 110 V / 230 V 60 Hz / 50 Hz
